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產(chǎn)品型號(hào)：4263B廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2025-06-08訪 問(wèn) 量：3190產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Agilent/安捷倫 |
|---|
安捷倫Alilent 4263B LCR測(cè)試儀
基本精度為0.1%
測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量（供選用）
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀是Agilent公司生產(chǎn)的zui價(jià)廉物美的低檔LCR測(cè)試儀，供生產(chǎn)線上的元件評(píng)估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測(cè)試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對(duì)測(cè)試進(jìn)行模擬的5個(gè)測(cè)試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測(cè)試頻率（選件002）。
高速測(cè)量
Agilent 4263B依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來(lái)提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率，4263B能檢查測(cè)試端子與被測(cè)件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測(cè)試的可靠性，有故障的被測(cè)件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以zui高速度工作。
電解電容器測(cè)量
Ailent 4263B的精度和寬的測(cè)量范圍是對(duì)電解電容器進(jìn)行精密測(cè)量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用，能保持測(cè)試正常進(jìn)行。
變壓器參數(shù)測(cè)量
由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測(cè)量，故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測(cè)試裝置不再是費(fèi)時(shí)的工作（選件001）靈活的信號(hào)電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測(cè)量與電平有關(guān)的被測(cè)件，始磁芯電感器。
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
| 測(cè)量功能 | | |
| 測(cè)量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
| 選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 | |
| 測(cè)量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |
| 數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 | |
| 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 | 0m,1m,2m,4m,（頻率=100/120/1kHz）;0m,1m,2m（頻率=10kHz/20kHz）;0m,1m（頻率=100kHz） | |
| 測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) | | |
| 測(cè)試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
| 選件002 | 增加20kHz測(cè)試頻率 | |
| 頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz）,±（10%+10mV） | |
| 輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%（≤1Ω量程） | |
| 交流測(cè)試信號(hào)電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 | |
| 精度 | ±（10%+10mV） | |
| 內(nèi)部直流偏置 | | |
| 電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV） | |
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
| 測(cè)量范圍 | 參數(shù) | 測(cè)量范圍 |
| |Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ | |
| |Y|,G,B | 10nS-1000S | |
| C | 1pF-1F | |
| L | 10nH-100kH | |
| D | 0.0001-9.9999 | |
| Q | 0.1-9999.9 | |
| θ | -180°~+180° | |
| DCR | 1mΩ-100MΩ | |
| N | 0.9-200（待定） | |
| L,M | 1μH-100H（待定） | |
| Δ% | -999.99%-+999.99% | |
| 測(cè)量精度： | ±0.1%（基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL） | |
| 測(cè)量時(shí)間 | | |
| 模式 | 時(shí)間（典型值） | |
| 短 | 25ms | |
| 中等 | 65ms | |
| 長(zhǎng) | 500ms | |
| 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器： | 電壓和電流 | |
| 前端保護(hù)： | 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。zui大電容器電壓為；在 | |
| 顯示數(shù)字： | 3，4或5位（可選擇） | |
| 修正功能： | | |
| 開(kāi)路/短路誤差為0： | 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 | |
| 負(fù)載： | 利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度 | |
| 比較功能： | 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 | |
| 接觸檢查功能： | 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms | |
| 其它功能 | | |
| 存儲(chǔ)/調(diào)用： | 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 | |
| 連續(xù)存儲(chǔ)功能： | 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)（在23°±5℃下≦72小時(shí)） | |
| GPIB接口 | 所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 | |
| 處理器接口 | 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開(kāi)路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) | |
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀一般技術(shù)指標(biāo)：
| 電源要求 | 90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax |
| 工作溫度 | 0-45℃ |
| 尺寸 | 320mm（寬）*100mm（高）*300mm（長(zhǎng)）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸） |
| 重量： | 4.5kg（9.9磅） |
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀主要技術(shù)資料
263B LCR測(cè)試儀產(chǎn)品介紹，p/n 5964-6181E
有效電解電容器測(cè)試，p/n 5967-5378E
有效變壓器/低頻線圈測(cè)試，p/n5967-5377E
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀訂貨信息
·4263B LCR測(cè)試儀
Opt 001 增加N。M/DCR測(cè)量功能
Opt 002 增加20kHz測(cè)試頻率
Opt ABA 英文版本手冊(cè)
Opt ABJ 日文版本
Opt OBO 除去操作手冊(cè)
Opt W30 擴(kuò)大的維修服務(wù)
16060A 變壓器測(cè)試夾具（需要選件001）
16065C 外部偏置適配器（達(dá)40 Vdc）
16089A Kelvin 夾子引線（1m,兩個(gè)大夾子）
16089B Kelvin 夾子引線（1m,兩個(gè)中等夾子）
16089C Kelvin 夾子引線（1m，兩個(gè)集成電路夾子）
16089D Kelvin 夾子引線（1m,四個(gè)大夾子）
16089E Kelvin 夾子引線（1m,兩個(gè)大夾子）
16064B LED顯示器/觸發(fā)器盒（合格/不合格顯示器和觸發(fā)器）
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